手持式四探針測(cè)試儀
DP-3型是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。
儀器成套組成：由DP-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。

產(chǎn)品型號(hào)：DP-3

更新時(shí)間：2023-07-25

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問(wèn)量：2094

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產(chǎn)品分類

電力產(chǎn)品類

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手持式四探針測(cè)試儀型號(hào):DP-3

概述
DP-3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。
儀器成套組成：由DP-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電測(cè)試。
基本技術(shù)參數(shù)
1.?測(cè)量范圍、分辨率
電阻：???? 0.010?～?50.00kΩ,?????分辨率0.001?～?10 Ω
電阻?率：???? 0.010～?20.00kΩ-cDP，?分辨率0.001?～?10 Ω-cDP
方塊電阻： 0.050～?100.00kΩ/□???分辨率0.001?～?10 Ω/□
2.?可測(cè)材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下：
直徑：DPT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式?Φ15～130DPDP。
DPT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180DPDP×180DPDP。
長(zhǎng)(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式?H≤100DPDP。.
測(cè)量方位:?軸向、徑向均可.

量程劃分及誤差

量程（Ω-cm/□）	2.000	20.00	200.0	2.000k	20.00k
電阻測(cè)試范圍	0.010～2.200	2.000～22.00	20.00～220.0	0.200～2.200k	2.000～50.00k
電阻率/方阻	0.010/0.050～2.200	2.000～22.00	20.00～220.0	0.200～2.200k	2.000～20.00k/100.0k
基本誤差	±1%FSB±2LSB			±2%FSB±2LSB